KFD50(垂直探傷 測定範囲の調整方法) 簡易取扱説明書

超音波探傷器 KFD50(垂直探傷)

超音波探傷器 KFD50(垂直探傷)

手順[1]

KFD50(上部電源コネクター)とACアダプター、探触子コネクタと探触子(プローブ)をケーブルで接続する。

手順1

手順[2]

「電源」キーを押し電源を入れる。

手順2

超音波探傷器 KFD50(垂直探傷)

 

手順[3]設定(メニュー構成)※測定前に確認してください。

白色セル:重要度:高
灰色セル:重要度:低

<メニュー:第1階層>

メニュー:第1階層

<メニュー:第2階層>

メニュー:第2階層

<メニュー:第3階層>

メニュー:第3階層

超音波探傷器 KFD50(垂直探傷)

測定範囲の調整

 

手順[4]ゲインの調整

STB-A1(25mm部)に接触媒質(カプラント)を少量塗布し、探触子(プローブ)を接触させる。
左上の「矢印上下」キーを押しB1エコーを80%の高さに調整する。 校正メニューを表示させる。

手順4

手順[5]校正

項目選択キーの「校正矢印左」キーを2回押す。
校正項目に「基準1?」と表示されてる事を確認し、「矢印左右」キーでゲートをB1エコーへ移動させる。

手順5

手順[6]校正

「校正矢印左」キーを2回押す。
校正項目に「基準2?」と表示されてる事を確認し、「矢印左右」キーでゲートをB1エコーからB2エコーへ移動させる。

手順6

手順[7]校正

「校正矢印左」キーを2回押す。
校正項目に「オフ」の文字が表示され、校正が完了する。

手順7

手順[8]校正

「メニュー階層変更」キーを2回押し、基本メニューへ切り替える。 実際の『音速』『0点調整』の値を確認する。

手順8

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