KFD50(垂直探傷 測定範囲の調整方法) 簡易取扱説明書 |
手順[1]
KFD50(上部電源コネクター)とACアダプター、探触子コネクタと探触子(プローブ)をケーブルで接続する。
手順[2]
「電源」キーを押し電源を入れる。
手順[3]設定(メニュー構成)※測定前に確認してください。
:重要度:高
:重要度:低
<メニュー:第1階層>
<メニュー:第2階層>
<メニュー:第3階層>
測定範囲の調整
手順[4]ゲインの調整
STB-A1(25mm部)に接触媒質(カプラント)を少量塗布し、探触子(プローブ)を接触させる。
左上の「」キーを押しB1エコーを80%の高さに調整する。 校正メニューを表示させる。
手順[5]校正
項目選択キーの「校正」キーを2回押す。
校正項目に「基準1?」と表示されてる事を確認し、「」キーでゲートをB1エコーへ移動させる。
手順[6]校正
「校正」キーを2回押す。
校正項目に「基準2?」と表示されてる事を確認し、「」キーでゲートをB1エコーからB2エコーへ移動させる。
手順[7]校正
「校正」キーを2回押す。
校正項目に「オフ」の文字が表示され、校正が完了する。
手順[8]校正
「メニュー階層変更」キーを2回押し、基本メニューへ切り替える。 実際の『音速』『0点調整』の値を確認する。
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